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Q & A

その他のQ & A

プログラミング中にBeeProg+を電源ON・OFFして性能評価を行っております。 その際に、残電荷が残っていないことを確認するためオシロスコープで波形を確認したいのですが、 チップをセットしなくとも各ピンに電圧値が±68V程発生しております。 本体接続はデータシート⑧電源コネクタをコンセントに接続しており、⑩USBコネクタにてノートパソコンと 接続しております。その他は接続しておりません。また、⑥電源スイッチを入れなくとも電圧が発生して おります。(入れても変化なし)
原因追及のため回答をお願い致します。

Beeprog+の本体の右横にアースへ落とす端子があります、それをGNDに落として下さい。 PC側のアースも同一のGNDに落として下さい。 計測器側のGNDも同一のGNDに落としていますか?浮いていませんか? ±68VはこれらのGNDが共通のアースにうまく落ちていないためどれかの ACフィルタの中点電位がアースとなりAC100Vの√2倍の半分の電位が観測されていると思われます。 今一度すべてのGNDがどのように接続されているか確認下さい。

RF24LU1x[NRF24LU1P-F32Q32-R7n]のFLASHには元々上位2KBに"USB経由で書込むためのブートローダー"がプログラム されていますが、ライタで書込みを行った場合、このプログラムは消えないでしょうか? (消えるとUSB経由で書換えが出来なくなるため確認したいです)
知っている限りでは、RAMはパワーダウン後にコンテンツを失いますが、 しかし、このケースでもこれが起こるのか否かはNordic Semiconductor社ご確認下さい。

単独ベリファイによるエラーについて

Spansion S6E2GH8H0AGV2 [LQFP144]での単独ベリファイでのエラーに関しまして:
書込みは正常に行えるのですがベリファイ(単独ベリファイ)を行うとエラーになってしまいます。

ユーザー様が"Main Flash"のみをプログラムされておられる場合、 プログラミング後のベリファイではMain FlashのみがベリファイされますのでPassします。 単独(SOLO)ベリファイはデバイス全体がベリファイされます。従って、"HTM code area"や"General Purpose Data"と呼ばれる領域等 プログラムされていない領域も含めてデバイスの全てがベリファイされますので、Errorが報告されます。 この領域のデータはデバイス(0xFF値)ではプログラムされないまま残りますが、この領域のバッファでのデータ は0x00となります。従いまして、このデバイスではプログラム直後のベリファイを除き、単独でベリファイされますとVerify errorとして報告されます。

STMicro M29W640FB書込み時のベリファイ・エラーに関しまして
Checksum は常にフル・バッファの範囲(即ち、Flash + Extended block)を計算します。
バッファの Extended blockにデータを持っていない場合は、チェックサム計算のアドレス範囲を変更して行って下さい。
例えば、Flashのみ(Extended block無し)プログラミングの後のベリファイはプログラムされた部分のみベリファイします。 もし、Flash部分がプログラムされいる場合はFlash部分のみベリファイします。
単体ベリファイは常に全デバイス、即ち、boot FlashとExtended block部分をベリファイします。 従って、Extended block がプログラムされていない場合は、ベリファイはその部分のベリファイを試みて、そして、エラーを出します。
バッファの Extended blockにデータを持っていない場合は、チェックサム計算のアドレス範囲を変更して行って下さい。例えば、Flashのみ(Extended block無し)
チェックサム計算のアドレス範囲を変更方法
下記の2)のダイアログ・ボックスで希望のアドレス範囲を設定して下さい。
1) BeeProg2日本語マニュアルの 40ページ Buffer / Checksum[バッファ/チェックサム]をご覧下さい。
2) 同じダイアログ・ボックスは以下の方法でも表示出来ます。 PG4UWのメニュー-> バッファ -> チェックサム -> メイン・チェックサム・オプションからも 編集ダイアログが表示されますので、その中で”メイン・チェックサムのための カスタム・アドレス範囲”で”有効にする”をチェックにして設計者からのチェックサムと 合う様に操作して下さい。
詳しくはデバイスのデータシートをご参考の上、自己責任で操作して下さい。

Winbond W25Q80EWUXIE(USON2x3)の書込みを行っておりますが、一部のデバイスで領域外に Winbond特有のデータが入っています。 内容は、マスターICからデータを吸い上げて、期待しているチェックサム値は問題なし。 書込み工程でBPVを行うも問題なし。 (このとき、デバイス領域分の0~FFFFFまでの書込みをするためバッファを修正しております。) 問題は単独のベリファイを行った際にデバイスの領域外までROMライタが読み取ってしまいベリファイ・エラーとなる状況にあります。
実は、ICの方も領域外に特有のデータが入っている場合と入っていない場合があります。入っていないICの場合、 正常にベリファイはできます。しかしながら特有のデータが領域外にあると単独ベリファイの時にエラーとして はじかれてしまいます。(*領域内のデータは正常) どうしてベリファイ時に指定領域外の部分まで読込むようになっているのですか?

下記の2)のダイアログ・ボックスで希望のアドレス範囲を設定して下さい。
1) BeeProg2日本語マニュアルの 40ページ Buffer / Checksum[バッファ/チェックサム]をご覧下さい。
2) 同じダイアログ・ボックスは以下の方法でも表示出来ます。 PG4UWのメニュー-> バッファ -> チェックサム -> メイン・チェックサム・オプションからも 編集ダイアログが表示されますので、その中で”メイン・チェックサムのための カスタム・アドレス範囲”で”有効にする”をチェックにして設計者からのチェックサムと 合う様に操作して下さい。
詳しくはデバイスのデータシートをご参考の上、自己責任で操作して下さい。

Nordic nRF51822の書込みシーケンス(ブランクチェック→プログラム→ベリファイ)の はベリファイはOKになっています。 その後、再確認のためベリファイだけ単独で実施しますとベリファイがNGになりますが何故なのでしょうか?
Nordic nRF51822の書込みでの問題に関しまして、ELNECより社内で出来る限りの ことを試みましたが、残念乍ら、ソフトウエアで解決出来るデバイスの構造になっていないことが判明致しました。 プログラムされたコードがデバイス自信に何らかの変更を行っている様ですので、 このデバイスに関しましては単独ベリファイは使用しないで下さい。 プログラミングの際のVerify操作もdisableにされた方が良いと思います。 もし、上記の説明に疑問がお有りの場合は、この点についてNordic社ご確認下さい。 その上で、もし、疑問がある場合はNordic社様からELNEC社に連絡をして頂ける様にお願いして下さい。